TEM是 透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope）的缩写。它是一种利用电子束而不是光束来形成样品显微图像的高分辨率显微镜。透射电子显微镜通过电子束穿透样品，经过聚焦和放大后，观察样品的内部精细结构，如晶体结构和形态等。与扫描电子显微镜（SEM）相比，TEM提供更高的放大倍数，但观察的是样品的内部结构，而SEM则提供样品表面及其组成的信息。

建议：

在科学研究和材料分析中，TEM是一种非常重要的工具，能够提供原子级别的结构和表面形貌信息，对材料的研究和分析起着至关重要的作用。

如果需要使用TEM，建议详细了解其工作原理和操作方法，以便更好地利用这一高端科学仪器进行实验研究。